发明名称 荷电粒子束描绘装置及荷电粒子束的照射量检查方法
摘要
申请公布号 TWI505316 申请公布日期 2015.10.21
申请号 TW102138484 申请日期 2013.10.24
申请人 纽富来科技股份有限公司 发明人 加藤靖雄;菅沼瑞奈
分类号 H01J37/302;H01J37/317 主分类号 H01J37/302
代理机构 代理人 林志刚 台北市中山区南京东路2段125号7楼
主权项 一种荷电粒子束描绘装置,其特征系具备:运算部,其系补正近接效应,覆盖效应及负载效应的其中至少1个所引起的尺寸变动,且运算表示依据从外部输入的剂量调变量所被剂量调变的荷电粒子束的每单位面积的照射量之照射量密度;判定部,其系判定前述照射量密度是否超过容许值;及描绘部,其系利用荷电粒子束来对试料描绘图案。
地址 日本