发明名称 快闪记忆体、坏区块的管理方法及管理程式;FLASH MEMORY, MANAGEMENT METHOD AND MANAGEMENT PROGRAM OF BAD BLOCK
摘要 本发明提供一种解决现有的坏区块管理方法的问题的快闪记忆体。本发明的快闪记忆体包括:记忆体阵列110,包含多个区块;管理记忆体154,存储对记忆体阵列110进行程式化及抹除时的状态;第一判定部件,基于状态而判定在记忆体阵列内是否存在坏区块;第二判定部件,在判定为存在坏区块时,判定坏区块内的一部分是否为坏页;及查找表152,在判定为坏区块内的一部分为坏页时,存储用以转换坏区块与坏区块内的页面的位址转换资讯。; a management memory 154, which stores a status of programming and erasing the memory array 110; a first judgement component, which judges whether the bad block exists in the memory array according to the status; a second judgement component, which judges whether a part of the bad block is a bad page when the existing bad block is judged; and a look-up table 152, which stores an address transformation information for transforming the bad block and the page in the bad block.
申请公布号 TW201539463 申请公布日期 2015.10.16
申请号 TW103112340 申请日期 2014.04.02
申请人 华邦电子股份有限公司 WINBOND ELECTRONICS CORP. 发明人 青木实 AOKI, MINORU
分类号 G11C29/04(2006.01);G11C16/16(2006.01) 主分类号 G11C29/04(2006.01)
代理机构 代理人 叶璟宗詹东颖刘亚君
主权项
地址 台中市大雅区科雅一路8号 TW