触控面板设备和方法

摘要

提供用于提升触控面板精度的设备和方法。校正采样控制器(830)命令X-Y坐标定位设备将触控仿真笔相对于触控面板(815)定位在已知X-Y坐标位置处，并按下笔。触控采样模块(835)接收、采样并存储对应于与触控面板节点有关的信号幅值的校正样本值。每个节点对应于与触控面板行/列交叉点有关的X-Y坐标位置。信号幅值对应于节点到按下的笔的X-Y坐标位置的物理接近度。触控面板特征建模器(210)接收节点校正样本值并根据跨越触控面板的触控仿真笔的路径生成节点校正样本值的特征模型。

主权项

一种用于提升触控面板精度的设备，所述设备包括：校正采样控制器，所述校正采样控制器命令X‑Y坐标定位设备将触控仿真笔相对于触控面板放置在已知X‑Y坐标位置处，并按下所述笔；触控采样模块，所述触控采样模块通信耦合到所述校正采样控制器，以接收、采样并存储多个校正样本值，每个校正样本值对应于与触控面板节点有关的信号幅值，每个节点对应于与触控面板行/列交叉点有关的X‑Y坐标位置，所述信号幅值对应于节点到所按下的笔的所述X‑Y坐标位置的物理接近度；和触控面板特征建模器，所述触控面板特征建模器通信耦合到所述校正采样控制器，以接收所述多个节点校正样本值并根据跨越所述触控面板的所述触控仿真笔的路径而生成所述多个节点校正样本值的特征模型。