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Die Erfindung betrifft eine Anordnung zur Lichtblattmikroskopie. Diese Anordnung umfasst eine Beleuchtungsoptik mit einem Beleuchtungsobjektiv (5) zur Beleuchtung einer auf einem Probenträger in einem Medium (2) befindlichen Probe (3) über einen Beleuchtungsstrahlengang mit einem Lichtblatt. Die optische Achse (6) des Beleuchtungsobjektivs und das Lichtblatt liegen in einer Ebene, die mit der Normalen einer ebenen Bezugsfläche (4), hinsichtlich welcher der Probenträger ausgerichtet ist, einen von Null verschiedenen Beleuchtungswinkel (&bgr;) einschließt. Die Anordnung umfasst außerdem eine Detektionsoptik mit einem Detektionsobjektiv (7) in einem Detektionsstrahlengang, dessen optische Achse (8) mit der Normalen der Bezugsfläche (4) einen von Null verschiedenen Detektionswinkel (δ) einschließt. Die Anordnung umfasst schließlich ein Trennschichtsystem mit mindestens einer Schicht aus einem vorgegebenen Material mit vorgegebener Dicke, welche das Medium (2) von dem Beleuchtungsobjektiv (5) und dem Detektionsobjektiv (7) trennt, wobei das Trennschichtsystem mit einer parallel zur Bezugsfläche (4) ausgerichteten Grundfläche zumindest in dem für das Beleuchtungsobjektiv (5) und das Detektionsobjektiv (7) für Beleuchtung bzw. Detektion zugänglichen Bereich mit dem Medium (2) in Kontakt steht. Bei einer solchen Anordnung umfasst das Detektionsobjektiv (7) ein im Strahlengang angeordnetes oder in diesen einbringbares erstes adaptives optisches Detektionskorrekturelement. Alternativ oder ergänzend umfasst das Beleuchtungsobjektiv (5) ein im Strahlengang angeordnetes oder in diesen einbringbares erstes adaptives optisches Beleuchtungskorrekturelement. Mit den beiden Korrekturelementen sind Aberrationen, die aufgrund des schrägen Durchtritts von zu detektierendem Licht bzw. von Licht zur Beleuchtung der Probe (3) durch Grenzflächen des Trennschichtsystems entstehen, für einen vorgegebenen Bereich von Detektionswinkeln (δ) bzw. von Beleuchtungswinkeln (&bgr;) und/oder für einen vorgegebenen Bereich von der Dicke der mindestens einen Schicht des Trennschichtsystems verringerbar. |
