发明名称 | 谐振式传感器敏感结构频率特性的数字测试系统 | ||
摘要 | 谐振式传感器敏感结构频率特性的数字测试系统,包括前置放大滤波器、模拟数字转换器、处理器、直接数字合成时钟源、数字模拟转换器和激励放大器,敏感结构的拾振元件输出的信号经过前置放大滤波器放大和滤波后,由模拟数字转换器转换成数字信号输入到处理器中,处理器控制数字模拟转换器输出正弦信号,经过激励放大器放大,作为敏感结构中激励元件的激励信号激励谐振器,直接数字合成时钟源在处理器控制下输出时钟信号,直接数字合成时钟源输出的时钟信号作为模拟数字转换器和数字模拟转换器的转换时钟,以实现拾振元件输出的信号的整周期采样,处理器中采用锁相放大算法计算敏感结构拾振元件输出信号的幅度和相对于激励信号的相位,从而实现了拾振元件输出的信号的整周期采样。 | ||
申请公布号 | CN101038310A | 申请公布日期 | 2007.09.19 |
申请号 | CN200710063637.5 | 申请日期 | 2007.02.07 |
申请人 | 北京航空航天大学 | 发明人 | 樊尚春;蔡晨光;邢维巍 |
分类号 | G01R23/02(2006.01) | 主分类号 | G01R23/02(2006.01) |
代理机构 | 北京科迪生专利代理有限责任公司 | 代理人 | 贾玉忠;卢纪 |
主权项 | 1、谐振式传感器敏感结构频率特性的数字测试系统,其特征在于:包括:前置放大滤波器(8)、模拟数字转换器(7)、处理器(6)、直接数字合成时钟源(5)、数字模拟转换器(4)和激励放大器(3),敏感结构(1)的拾振元件(9)输出的信号经过前置放大滤波器(8)放大和滤波后,由模拟数字转换器(7)转换成数字信号输入到处理器(6)中,处理器(6)控制数字模拟转换器(4)输出正弦信号,经过激励放大器(3)放大,作为敏感结构(1)中激励元件(11)的激励信号激励谐振器(10),直接数字合成时钟源(5)在处理器(6)控制下输出时钟信号,直接数字合成时钟源(5)输出的时钟信号作为模拟数字转换器(7)和数字模拟转换器(4)的转换时钟,该转换时钟是拾振元件(9)输出的信号频率的整数倍,从而实现拾振元件(9)输出的信号的整周期采样。 | ||
地址 | 100083北京市海淀区学院路37号 |