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发明名称 Circuit and Method for Testing Input Data in Semiconductor Memory Apparatus
摘要
申请公布号 KR100892633(B1) 申请公布日期 2009.04.09
申请号 KR20060052018 申请日期 2006.06.09
申请人 发明人
分类号 G11C29/00 主分类号 G11C29/00
代理机构 代理人
主权项
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