发明名称 一种单粒子效应探测装置及方法
摘要 本发明提供一种单粒子效应探测装置,包括光耦传感器工作单元、SET幅度甄别单元额和SET计数单元;所述光耦传感器工作单元用于在待测辐射环境中获取SET信号,所述SET幅度甄别单元用于将光耦传感器工作单元获取的SET信号幅度与阈电压进行对比后甄别出不同的SET信号的幅度范围,所述SET计数单元用于统计处于各幅度区间的SET信号的出现次数。本发明还可以进一步包括数据映射单元。本发明能够实现对数个、十余个MeV.cm2/mg LET的值甚至该量级以下的辐射环境的测量;能够定量测量表征特定微电子器件单粒子效应的LET值;具有较宽的LET值定量测量范围;并且所使用的传感器体积和质量小,电路结构简单,利于探测装置器件的轻小型化和低功耗化。
申请公布号 CN101907662A 申请公布日期 2010.12.08
申请号 CN200910086516.1 申请日期 2009.06.04
申请人 中国科学院空间科学与应用研究中心 发明人 韩建伟;马英起;封国强;安广鹏;张振龙
分类号 G01R31/00(2006.01)I;G01R31/316(2006.01)I 主分类号 G01R31/00(2006.01)I
代理机构 北京泛华伟业知识产权代理有限公司 11280 代理人 王勇
主权项 一种单粒子效应探测装置,包括光耦传感器工作单元、单粒子瞬态脉冲幅度甄别单元和单粒子瞬态脉冲计数单元;所述光耦传感器工作单元用于在待测辐射环境中获取单粒子瞬态脉冲信号,所述单粒子瞬态脉冲幅度甄别单元用于将光耦传感器工作单元获取的单粒子瞬态脉冲信号幅度与阈电压进行对比后甄别出不同的单粒子瞬态脉冲信号所处的幅度区间,所述单粒子瞬态脉冲计数单元用于统计处于各幅度区间的单粒子瞬态脉冲信号的出现次数。
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