发明名称 管理液晶基板之装置及方法
摘要
申请公布号 TWI330796 申请公布日期 2010.09.21
申请号 TW093104635 申请日期 2004.02.24
申请人 岛津制作所股份有限公司 发明人 藤原忠幸;高田知弘也
分类号 G06F17/40 主分类号 G06F17/40
代理机构 代理人 陈长文 台北市松山区敦化北路201号7楼
主权项 一种液晶基板管理装置,其包括:液晶测试元件,其可使用以决定该液晶基板中之面板或基板中之至少一者是否有缺陷,且获取缺陷资讯,其指示至少该缺陷及该面板与该基板中之该至少一者是否有缺陷;液晶修复元件,其可用以根据该缺陷资讯修复该缺陷,且获取修复资讯,其指示该缺陷是否实际上已被修复;资料管理区段,其具有资料库用于记录从该液晶测试元件中获取的该缺陷资讯、以及从该液晶修复元件中获取的该修复资讯;其中该资料管理区段可用以依据比较该资料库中记录的该缺陷资讯与该修复资讯,重新决定该缺陷之存在;该液晶修复元件可用以当有关该缺陷之该缺陷资讯不同于该修复资讯时,校正该缺陷资讯以产生校正后之缺陷资讯;该资料管理区段可用以参考该校正后之缺陷资讯来更新资料库中记录的缺陷资讯。如申请专利范围第1项之液晶基板管理装置,其中该资料管理区段储存处方资讯,以定义该资料库中该基板与面板的规格,该处方资讯可自由编辑。如申请专利范围第2项之液晶基板管理装置,其中该资料管理区段系藉由与连接至该资料管理区段的终端机交换资讯来编辑该处方资讯。一种液晶基板管理方法,其包括:决定该液晶基板中之面板或基板中之至少一者是否有缺陷,且获取缺陷资讯,其指示至少该缺陷及该面板与该基板中之该至少一者是否有缺陷;依据该缺陷资讯修复该缺陷,且获取修复资讯,其指示该缺陷是否实际上已被修复;记录从该液晶测试元件中获取的该缺陷资讯,以及从该液晶修复元件中获取的该修复资讯于资料库中;依据比较该资料库中记录的该缺陷资讯与该修复资讯,重新决定该缺陷之存在;当有关该缺陷之由该缺陷资讯所指之缺陷不同于由该修复资讯所指之缺陷时,校正该缺陷资讯以产生校正后之缺陷资讯;参考该校正后之缺陷资讯来更新该资料库中记录的缺陷资讯。如申请专利范围第4项之液晶基板管理方法,其进一步包括:记录从该液晶测试元件中获取的处方资讯于该资料库中,该处方资讯定义该基板与面板的规格,并可自由编辑。如申请专利范围第1项之液晶基板管理装置,其中该修复资讯包含影像资讯,其系实际上已修复之该面板及该基板中之该至少一者之一部分。如申请专利范围第1项之液晶基板管理装置,其中该资料管理区段可用以藉由施行关于该资料库中记录的该缺陷资讯及该修复资讯之统计处理,而获取复数液晶基板之缺陷趋势资讯。如申请专利范围第4项之液晶基板管理方法,其中该修复资讯包含影像资讯,其系实际上已修复之该面板及该基板中之该至少一者之一部分。如申请专利范围第4项之液晶基板管理方法,其进一步包括:藉由施行关于该资料库中记录的该缺陷资讯及该修复资讯之统计处理,而获取复数液晶基板之缺陷趋势资讯。
地址 日本