| 摘要 |
L'invention concerne un dispositif d'échantillonnage électro-optique d'un signal hyperfréquence comprenant une ligne hyperfréquence (20) de transmission d'un signal hyperfréquence, ladite ligne hyperfréquence comportant une zone d'interruption (22) apte à être rendue conductrice sous l'effet d'un signal optique de commande de manière à réaliser une fonction d'interrupteur à commande optique. Le dispositif selon l'invention comporte, dans ladite zone d'interruption, une couche (42) en matériau semi-conducteur nanostructuré, comportant un pavage périodique ou quasi-périodique de nanostructures (38). La couche (42) en matériau semi-conducteur nanostructuré est posée, au niveau de ladite zone d'interruption, en suspension ou sur un matériau diélectrique (36) d'indice de réfraction inférieur à l'indice de réfraction dudit matériau semi-conducteur, ladite couche (42) en matériau semi-conducteur nanostructuré étant apte à réaliser ladite fonction d'interrupteur à commande optique. Selon un mode de réalisation, la couche (42) en matériau semi-conducteur nanostructuré comporte au moins une cavité optique résonante (44) formée par modification dans le pavage de nanostructures. |
