发明名称 |
一种具有改进型N阱电容的单栅非易失存储单元 |
摘要 |
一种具有改进型N阱电容的单栅非易失存储单元,包括控制管、隧穿管、读取管以及选择管,控制管和隧穿管均采用改进型N阱电容实现,读取管采用NMOS晶体管或本征管实现,选择管采用NMOS晶体管实现,控制管、隧穿管和读取管三管的栅极并接,作为存储电荷的浮栅,该浮栅与外界通过绝缘层隔离,所述的控制管驻留在第一个N阱中,隧穿管驻留在第二个N阱中,读取管驻留在P衬底或第一个P阱中,选择管驻留在第一个P阱中,所述改进型N阱电容是在栅极两侧的N阱中分别掺杂N+类型和P+类型的杂质,形成N+区域和P+区域,同时栅极多晶为N+类型的杂质注入。本发明提出了改进型N阱电容。其在实现与标准CMOS工艺兼容的同时,提高存储单元的擦写效率和稳定性。 |
申请公布号 |
CN104123961A |
申请公布日期 |
2014.10.29 |
申请号 |
CN201410346929.X |
申请日期 |
2014.07.21 |
申请人 |
中国人民解放军国防科学技术大学;湖南晟芯源微电子科技有限公司 |
发明人 |
李聪;李建成;尚靖;李文晓;王震;王宏义;谷晓忱;郑黎明;李浩 |
分类号 |
G11C16/02(2006.01)I;H01L27/115(2006.01)I |
主分类号 |
G11C16/02(2006.01)I |
代理机构 |
北京中济纬天专利代理有限公司 11429 |
代理人 |
胡伟华 |
主权项 |
一种具有改进型N阱电容的单栅非易失存储单元,其特征在于:包括控制管、隧穿管、读取管以及选择管,控制管和隧穿管均采用改进型N阱电容实现,读取管采用NMOS晶体管或本征管实现,选择管采用NMOS晶体管实现,控制管、隧穿管和读取管三管的栅极并接,作为存储电荷的浮栅,该浮栅与外界通过绝缘层隔离,所述的控制管驻留在第一个N阱中,隧穿管驻留在第二个N阱中,读取管驻留在P衬底或第一个P阱中,选择管驻留在第一个P阱中,所述改进型N阱电容是在栅极两侧的N阱中分别掺杂N+类型和P+类型的杂质,形成N+区域和P+区域,同时栅极多晶为N+类型的杂质注入。 |
地址 |
410073 湖南省长沙市开福区德雅路109号 |