发明名称 一种具有改进型N阱电容的单栅非易失存储单元
摘要 一种具有改进型N阱电容的单栅非易失存储单元,包括控制管、隧穿管、读取管以及选择管,控制管和隧穿管均采用改进型N阱电容实现,读取管采用NMOS晶体管或本征管实现,选择管采用NMOS晶体管实现,控制管、隧穿管和读取管三管的栅极并接,作为存储电荷的浮栅,该浮栅与外界通过绝缘层隔离,所述的控制管驻留在第一个N阱中,隧穿管驻留在第二个N阱中,读取管驻留在P衬底或第一个P阱中,选择管驻留在第一个P阱中,所述改进型N阱电容是在栅极两侧的N阱中分别掺杂N+类型和P+类型的杂质,形成N+区域和P+区域,同时栅极多晶为N+类型的杂质注入。本发明提出了改进型N阱电容。其在实现与标准CMOS工艺兼容的同时,提高存储单元的擦写效率和稳定性。
申请公布号 CN104123961A 申请公布日期 2014.10.29
申请号 CN201410346929.X 申请日期 2014.07.21
申请人 中国人民解放军国防科学技术大学;湖南晟芯源微电子科技有限公司 发明人 李聪;李建成;尚靖;李文晓;王震;王宏义;谷晓忱;郑黎明;李浩
分类号 G11C16/02(2006.01)I;H01L27/115(2006.01)I 主分类号 G11C16/02(2006.01)I
代理机构 北京中济纬天专利代理有限公司 11429 代理人 胡伟华
主权项 一种具有改进型N阱电容的单栅非易失存储单元,其特征在于:包括控制管、隧穿管、读取管以及选择管,控制管和隧穿管均采用改进型N阱电容实现,读取管采用NMOS晶体管或本征管实现,选择管采用NMOS晶体管实现,控制管、隧穿管和读取管三管的栅极并接,作为存储电荷的浮栅,该浮栅与外界通过绝缘层隔离,所述的控制管驻留在第一个N阱中,隧穿管驻留在第二个N阱中,读取管驻留在P衬底或第一个P阱中,选择管驻留在第一个P阱中,所述改进型N阱电容是在栅极两侧的N阱中分别掺杂N+类型和P+类型的杂质,形成N+区域和P+区域,同时栅极多晶为N+类型的杂质注入。
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