| 摘要 |
Den foreliggende oppfinnelsen vedrører et apparat (10) for inspeksjon av materie (12), hvilket apparat omfatter: en stråleanordning (14) tilpasset til å avgi stråling; et stoppelement (20) tilveiebrakt foran stråleanordningen og tilpasset til å blokkere noe (16a) av strålingen som avgis av stråleanordningen; en skanneanordning (26) tilpasset til å projisere et mørkt område (24) forårsaket av stoppelementet på materien, og til å omdirigere stråling (16b) som har passert stoppelementet mot materien, hvorved minst noe av den omdirigerte strålingen spres inne i materien og passerer ut av materien som spredt stråling (42); og en deteksjonsanordning (34) tilpasset til å motta eller detektere den spredte strålingen via skanneelementet, hvorved deteksjonsanordningens synsfelt (36) sammenfaller med det projiserte mørke området (24). Den foreliggende oppfinnelsen vedrører også en tilsvarende fremgangsmåte. |
