发明名称 基于变间距光栅衍射的二维位移测量装置
摘要 本发明公开了一种基于变间距光栅衍射的二维位移测量装置,解决了现有二维位移测量中,测量系统体积较大,数学处理方法复杂的问题,包括:光源、反射镜、聚焦透镜、光阑、准直透镜、二维测量光栅、二维位移平台、第一探测器、第二探测器和光谱仪。当光源发出的宽带光通过反射镜后平行入射到聚焦透镜上,聚焦后的光通过光阑、准直透镜垂直入射到二维测量光栅上,光束在二维测量光栅上发生衍射,探测器以固定角度接收衍射光,探测的信号经光谱仪分析处理。本发明所述的装置在测量过程中准确方便,并减少了装置的体积。
申请公布号 CN104913725A 申请公布日期 2015.09.16
申请号 CN201410100218.4 申请日期 2014.03.14
申请人 中国计量学院 发明人 楼俊;李本冲;许宏志;谭耀成;徐贲;黄杰;沈为民
分类号 G01B11/02(2006.01)I 主分类号 G01B11/02(2006.01)I
代理机构 代理人
主权项 基于变间距光栅衍射的二维位移测量装置,该装置包括光源、反射镜、聚焦透镜、光阑、准直透镜、二维测量光栅、二维位移平台、第一探测器、第二探测器和光谱仪,光源发出的宽带光经反射镜入射到聚焦透镜上,聚焦后的光通过光阑和准直透镜垂直入射到二维测量光栅上,光束在二维测量光栅上发生衍射,衍射光以固定角度被第一探测器、第二探测器接收,探测的信号通过光谱仪分析处理。
地址 310018 浙江省杭州市江干区下沙学源街258号