发明名称 | 一种用于超声检测的改进型试块及其应用 | ||
摘要 | 本发明涉及一种用于超声检测的改进型试块及其应用,该改进型试块是对2号校准试块进行改进,将2号校准试块中开设的横孔的直径由5mm调整为3mm,横孔的中心与上方直边的距离为20mm,按照符合GB/T 11345—2103的规定,设定和校准灵敏度。与现有技术相比,本发明不仅保留了2号校准试块体积小、重量轻、携带方便的优点,保留了可用于设定和校准时基线、测定斜探头入射点和折射角的功能,同时又扩展到能用于且符合GB/T 11345—2103的灵敏度设定和校准。 | ||
申请公布号 | CN104897783A | 申请公布日期 | 2015.09.09 |
申请号 | CN201510293381.1 | 申请日期 | 2015.06.01 |
申请人 | 上海材料研究所 | 发明人 | 金宇飞;马芳;翟莲娜 |
分类号 | G01N29/30(2006.01)I | 主分类号 | G01N29/30(2006.01)I |
代理机构 | 上海科盛知识产权代理有限公司 31225 | 代理人 | 陈亮 |
主权项 | 一种用于超声检测的改进型试块,其特征在于,该改进型试块是对2号校准试块进行改进,将2号校准试块中开设的横孔的直径由5mm调整为3mm,横孔的中心与上方直边的距离为20mm。 | ||
地址 | 200437 上海市虹口区邯郸路99号 |