发明名称 一种晶圆表面大深宽比TSV盲孔的清洗方法
摘要 本发明公开了一种晶圆表面大深宽比TSV盲孔的清洗方法,取若干晶圆放入超声擦片机中,利用去离子水冲洗的同时进行超声擦片;超声擦片结束后直接将晶圆从超声擦片机中取出,然后将晶圆放入纯IPA清洗液中清洗;将上述清洗过的晶圆取出置于纯EKC清洗液中清洗;将上述清洗过的晶圆取出置于纯IPA清洗液中清洗;将上述清洗过的晶圆取出置于去离子水槽中冲洗;将上述冲洗过的晶圆甩干。本发明采用晶圆生产线现有设备和现有清洗液,生产成本较低,且能够实现多片同时清洗,生产效率较高,满足大规模生产的需求。
申请公布号 CN104900493A 申请公布日期 2015.09.09
申请号 CN201510259860.1 申请日期 2015.05.20
申请人 中国航天科技集团公司第九研究院第七七一研究所 发明人 贺欣;单光宝;孙有民;杜欣荣;李翔
分类号 H01L21/02(2006.01)I 主分类号 H01L21/02(2006.01)I
代理机构 西安通大专利代理有限责任公司 61200 代理人 徐文权
主权项 一种晶圆表面大深宽比TSV盲孔的清洗方法,其特征在于,包括以下步骤:步骤一:取若干晶圆放入超声擦片机中,利用去离子水冲洗的同时进行超声擦片;步骤二:超声擦片结束后直接将晶圆从超声擦片机中取出,然后将晶圆放入纯IPA清洗液中清洗;步骤三:将步骤二中清洗过的晶圆取出置于纯EKC清洗液中清洗;步骤四:将步骤三中清洗过的晶圆取出置于纯IPA清洗液中清洗;步骤五:将步骤四中清洗过的晶圆取出置于去离子水槽中冲洗;步骤六:将步骤五中冲洗过的晶圆甩干。
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