专用IC检测仪

摘要

本实用新型涉及专用IC检测仪。自制仪器专用IC检测仪是针对目前高校实验室中的检测仪器中的缺点和不足，面向设计性实验中的专用IC芯片检测设计开发的。目前实验室的芯片检测仪仅可以检测TTL74/54系列、CMOS40/45系列的数字集成芯片，功能单一，准确率差。无法实现对其他集成度更高的专用IC如单片机、LCD液晶显示器、A/D和D/A芯片、单运放、双运放、四运放、专用传感器等的检测，给教学、实验过程带来不便。因而，针对性地设计自制的专用IC检测仪，实现对专用芯片进行快速可靠的检测，可以使实验得以更加顺利的开展。

主权项

专用IC检测仪，包括电源管理模块、运放和数字芯片检测模块、单片机检测模块、点阵式液晶检测模块、ADC和DAC检测模块、数码管检测模块，其特征在于，各个检测模块是独立的执行单元，互不干扰，各个检测模块还包括独立的控制器、液晶显示屏、功能按键、过流保护单元；所述液晶显示屏，用于观察当前检测信息、操作说明和状态，连接所述控制器；所述功能按键，用于切换检测的元件，连接所述控制器；所述过流保护单元，防止烧毁元器件，连接所述控制器。