发明名称 Instruções de fusíveis e lógica para fornecer o teste-or e/ou o teste-and de funcionalidade usando várias fontes de teste
摘要 Instruções de fusíveis e lógica para fornecer o teste-or e/ou o teste-and de funcionalidade usando várias fontes de teste. Instruções fusíveis e lógica podem fornecer teste-ar e teste-and de funcionalidade usando várias fontes de teste. Algumas formas de realização incluem uma etapa de decodificação do processador para decodificar uma instrução de teste para a execução, a instrução especificando primeiro, segundo e terceiro operandos de dados de origem, e um tipo de operação. As unidades de execução, que respondem às instruções de teste descodificados, executam uma operação lógica, de acordo com o tipo de operação especificada, entre os dados dos primeiros e segundos operandos de dados de origem, e executam uma segunda operação lógica entre os dados da terceira fonte de dados operando e o resultado da primeira operação lógica para definir um flag de estado. Algumas realizações geram a instrução de teste de forma dinâmica por meio da fusão uma instrução lógica com uma instrução de teste de estado de técnica. Outras realizações geram a instrução de teste de forma dinâmica através do compilador jit. Algumas formas de realização também fundem a instrução de teste com uma instrução de desvio condicional posterior e realizam um desvio de acordo com o modo em que a flag de estado esteja definida.
申请公布号 BR102014005800(A2) 申请公布日期 2015.08.25
申请号 BR20141005800 申请日期 2014.03.13
申请人 INTEL CORPORATION 发明人 MAXIM LOKTYUKHIN;ROBERT VALENTINE;JULIAN C. HORN;MARK J. CHARNEY
分类号 G06F11/25;G06F9/305 主分类号 G06F11/25
代理机构 代理人
主权项
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