微粒检测装置及光照射装置

摘要

本发明公开了微粒检测装置及光照射装置。一种微粒检测装置包括使从光源发出的光透过相位差元件并将该光聚焦到微粒流过的样本流上的光照射系统。当样本流的送流方向为X轴方向，光对样本流的照射方向为Z轴方向，ZX平面垂直于Y轴方向时，则相位差元件具有在Y轴方向上分割的多个区域，并使透过该多个区域的光的波面之间产生相位差。

主权项

一种微粒检测装置，包括：光照射系统，使从光源发出的光透过相位差元件并将所述光聚集到微粒流过的样本流上；其中，当所述样本流的送流方向为X轴方向，所述光对所述样本流的照射方向为Z轴方向，ZX平面垂直于Y轴方向时，所述相位差元件具有沿所述Y轴方向分割的多个区域，并使透过所述多个区域的光的波面之间产生相位差。