检测用接触件及具有该接触件的检测夹具与检测用接触件的制造方法;INSPECTION PROBE, INSPECTION FIXTURE, AND MANUFACTURING METHOD FOR INSPECTION PROBE

摘要

本发明提供一种可减小在检测点上形成的刮痕并可抑制检测端部偏移时的虚拟不良的发生、且可抑制制造成本的增大的检测用接触件。 该检测用接触件（1），在用于将检测点（C）及检测装置电连接的检测夹具中使用、在两端部具有位于检测点（C）侧的检测端部（2）及位于与该检测装置连接的电极部侧的电极端部、呈金属丝状，检测端部（2）的形状形成为越靠近该检测点（C）半径越缩小的圆锥台状。由于检测端部（2）与检测点（C）面接触，因此可减小在检测点（C）上形成的刮痕，并可抑制虚拟不良（绝缘不良的虚报）的发生。由于和检测点接触的检测端部之顶面2A之面积减小，故可抑制虚拟不良（绝缘不良的虚报）的发生。又由于检测端部之外的检测用接触件的大致所有的部分的直径（D）仍然保持为比较大，所以能够抑制因小径化而导致的制造成本的增大。