发明名称 |
基于Android系统的智能终端内存泄露的自动化测试方法 |
摘要 |
本发明提供一种基于Android系统的智能终端内存泄露的自动化测试方法,包括以下步骤:设置智能终端处于激活状态;获取智能终端当前的RAM值和CPU值;将获取的RAM值和CPU值进行排序;依次打开智能终端上的所有APP后再关闭,对RAM值和CPU值进行监测;当出现异常状况时,开启LOG抓取功能,自动记录测试状态。本发明的基于Android系统的智能终端内存泄露的自动化测试方法适用于任何Android手机或Android设备;通过RAM和CPU曲线来观察智能终端运行情况并会自动记录运行曲线的过程,从而有效的检测出智能终端中的内存运行的问题。 |
申请公布号 |
CN104834601A |
申请公布日期 |
2015.08.12 |
申请号 |
CN201510243591.X |
申请日期 |
2015.05.13 |
申请人 |
上海斐讯数据通信技术有限公司 |
发明人 |
韩继梁;李丽萍;惠晓辉;陈萌萌;赵彩云 |
分类号 |
G06F11/36(2006.01)I |
主分类号 |
G06F11/36(2006.01)I |
代理机构 |
上海光华专利事务所 31219 |
代理人 |
高园园 |
主权项 |
一种基于Android系统的智能终端内存泄露的自动化测试方法,其特征在于:包括以下步骤:步骤S1、设置智能终端处于激活状态;步骤S2、获取智能终端当前的RAM值和CPU值;步骤S3、将获取的RAM值和CPU值进行排序;步骤S4、依次打开智能终端上的所有APP后再关闭,对RAM值和CPU值进行监测;步骤S5、当出现异常状况时,开启LOG抓取功能,自动记录测试状态。 |
地址 |
201616 上海市松江区思贤路3666号 |