发明名称 低温合成二氧化硅
摘要 本发明描述了一种在包括室温在内的低温下,在有机衬底上生长均匀二氧化硅层的环境压力原子层沉积(ALD)技术。例如,在周围环境下,交替地使用四甲氧基硅烷蒸汽与氨蒸汽作为催化剂。
申请公布号 CN103025915B 申请公布日期 2015.08.05
申请号 CN201180036453.4 申请日期 2011.06.08
申请人 哈佛大学校长及研究员协会 发明人 J·艾森贝格;B·哈顿
分类号 C23C16/40(2006.01)I;C23C16/54(2006.01)I;C23C16/455(2006.01)I 主分类号 C23C16/40(2006.01)I
代理机构 北京万慧达知识产权代理有限公司 11111 代理人 戈晓美;杨颖
主权项 一种形成二氧化硅薄膜的方法,其包括:将有机衬底暴露于处于环境压力和温度低于150℃下的烷氧基硅烷蒸汽中达1秒至120分钟的范围内的时间,以使得所述烷氧基硅烷被吸附在所述衬底上;然后通过暴露于处于环境压力下的水蒸汽和催化剂中,使所述被吸附的烷氧基硅烷转化为二氧化硅;再然后重复所述暴露和所述转化;其中,在将有机衬底暴露于烷氧基硅烷蒸汽期间,所述烷氧基硅烷不与处于所述环境压力条件下的水蒸汽反应,其中所述烷氧基硅烷包括四甲氧基硅烷、三乙氧基硅烷或其混合物。
地址 美国马萨诸塞州