发明名称 |
低温合成二氧化硅 |
摘要 |
本发明描述了一种在包括室温在内的低温下,在有机衬底上生长均匀二氧化硅层的环境压力原子层沉积(ALD)技术。例如,在周围环境下,交替地使用四甲氧基硅烷蒸汽与氨蒸汽作为催化剂。 |
申请公布号 |
CN103025915B |
申请公布日期 |
2015.08.05 |
申请号 |
CN201180036453.4 |
申请日期 |
2011.06.08 |
申请人 |
哈佛大学校长及研究员协会 |
发明人 |
J·艾森贝格;B·哈顿 |
分类号 |
C23C16/40(2006.01)I;C23C16/54(2006.01)I;C23C16/455(2006.01)I |
主分类号 |
C23C16/40(2006.01)I |
代理机构 |
北京万慧达知识产权代理有限公司 11111 |
代理人 |
戈晓美;杨颖 |
主权项 |
一种形成二氧化硅薄膜的方法,其包括:将有机衬底暴露于处于环境压力和温度低于150℃下的烷氧基硅烷蒸汽中达1秒至120分钟的范围内的时间,以使得所述烷氧基硅烷被吸附在所述衬底上;然后通过暴露于处于环境压力下的水蒸汽和催化剂中,使所述被吸附的烷氧基硅烷转化为二氧化硅;再然后重复所述暴露和所述转化;其中,在将有机衬底暴露于烷氧基硅烷蒸汽期间,所述烷氧基硅烷不与处于所述环境压力条件下的水蒸汽反应,其中所述烷氧基硅烷包括四甲氧基硅烷、三乙氧基硅烷或其混合物。 |
地址 |
美国马萨诸塞州 |