光学材料折射率的测量系统及测量方法

摘要

本发明提供一种光学材料折射率的测量系统，包括：一激光模组；一分光镜将激光器输出的激光分为反射光及透射光；一光电探测模组将反射光转换为电信号；一信号处理系统将光电探测模组输入的电信号进行处理；一声光移频模组对透射光进行移频，形成一参考光及一测量光；一参考回馈镜将参考光反射，使参考光沿从声光移频模组出射的测量光的光路返回；一测量回馈镜与所述参考回馈镜间隔设置，从参考回馈镜出射的测量光经过测量回馈镜反射后沿原光路返回；一位移装置，用于承载待测样品并驱动待测样品产生位移；以及一位移测量系统，用于探测待测样品的位移Δl，并将测量结果导入信号处理系统。本发明进一步提供光学材料折射率的测量方法。

主权项

一种光学材料折射率的测量系统，包括：一激光模组，用于连续的输出激光；一分光镜，设置于从所述激光模组输出激光的光路上，且所述分光镜与所述激光模组间隔设置，将激光器输出的激光分为反射光及透射光；一光电探测模组，设置于所述反射光的光路上，并将反射光转换为电信号；一信号处理系统，与所述光电探测模组相连，将光电探测模组输入的电信号进行处理；其特征在于，进一步包括：一声光移频模组，设置于从分光镜出射的透射光的光路上，并对透射光进行移频，形成一参考光及一测量光，其中所述参考光为透射光经过声光移频模组时未发生衍射的光，所述测量光为透射光经过声光移频模组时发生衍射的光；一参考回馈镜，设置于从声光移频模组出射的参考光的光路上，用以将参考光反射，使参考光沿从声光移频模组出射的测量光的光路返回，形成参考回馈光；一测量回馈镜，与所述参考回馈镜间隔设置，从参考回馈镜出射的测量光经过测量回馈镜反射后沿原光路返回，形成测量回馈光；一位移装置，设置于所述参考回馈镜与测量回馈镜之间，用于承载待测样品并驱动待测样品产生位移；以及一位移测量系统，与信号处理系统相连，用于探测待测样品的位移Δl，并将测量结果导入信号处理系统。