发明名称 | 记忆体装置及其检测方法 | ||
摘要 | |||
申请公布号 | TWI493559 | 申请公布日期 | 2015.07.21 |
申请号 | TW101111776 | 申请日期 | 2012.04.03 |
申请人 | 旺宏电子股份有限公司 | 发明人 | 洪俊雄;陈耕晖;张钦鸿;郑家丰 |
分类号 | G11C29/04 | 主分类号 | G11C29/04 |
代理机构 | 代理人 | 祁明辉 台北市信义区忠孝东路5段510号22楼;林素华 台北市信义区忠孝东路5段510号22楼 | |
主权项 | 一种记忆体装置之检测方法,该记忆体装置包括复数个记忆胞以及分别连接该些记忆胞之闸极与汲极之复数条第一传导线与第二传导线,该检测方法包括:在一读取程序期间,提供一正电压至该些第一传导线之一,以选择开启该些记忆胞之一,并提供一负电压至其余该些第一传导线,以关闭未选择开启之其余该些记忆胞;以及进行一资料比对步骤,以比较施加该负电压前和施压该负电压后,该些第二传导线上的位准,当该资料比对不符合时,进行一漏电流抑制程序,以修复未选择开启之该些记忆胞之一缺陷;其中,该负电压用以抑制未选择开启之其余该些记忆胞之源极与汲极间产生之一漏电流。 | ||
地址 | 新竹市新竹科学工业园区力行路16号 |