发明名称 薄膜检查装置及方法;Apparatus And Method For Inspecting Film
摘要 本发明是有关一种薄膜检查技术,且有关一种薄膜检查装置及方法,其系检查往预定方向移送之薄膜的外观。本发明有关一种薄膜检查装置,包括:支承体;及至少一支承辊,其与前述支承体结合,在往第1轴方向移送之薄膜下部,支持前述薄膜。
申请公布号 TW201527742 申请公布日期 2015.07.16
申请号 TW103141722 申请日期 2014.12.02
申请人 东友精细化工有限公司 DONGWOO FINE-CHEM CO., LTD. 发明人 许宰宁 HEO, JAE YOUNG;朴宰贤 PARK, JAE HYUN;金柱炳 JEON, JOO BYUNG
分类号 G01N21/89(2006.01);B65G43/00(2006.01) 主分类号 G01N21/89(2006.01)
代理机构 代理人 蔡清福
主权项
地址 南韩 KR