发明名称 |
利用测试数据进行品管方法 |
摘要 |
本发明公开一种利用测试数据进行品管方法,是晶圆被分为多个被测元件,各被测元件经晶圆测试电气特性及效能时,以一收集单元在晶圆进行晶圆测试后收集晶圆的批号、晶圆的型号、被测元件在晶圆上的坐标、被测元件号以及被测元件测试的参数与测试结果的数据,并送往一测试数据分析站进行分析,以此数据制作各种收集资料的常态分布图,计算出差异数与标准差,作为品质管制监控手段或测试程式稳定度分析,由此构成本发明。 |
申请公布号 |
CN104778525A |
申请公布日期 |
2015.07.15 |
申请号 |
CN201410288603.6 |
申请日期 |
2014.06.25 |
申请人 |
讯利电业股份有限公司;陈坤忠 |
发明人 |
陈坤忠 |
分类号 |
G06Q10/06(2012.01)I;G06F17/50(2006.01)I |
主分类号 |
G06Q10/06(2012.01)I |
代理机构 |
上海宏威知识产权代理有限公司 31250 |
代理人 |
袁辉 |
主权项 |
一种利用测试数据进行品管方法,其特征在于:晶圆被分为多个被测元件,各所述被测元件经晶圆测试电气特性及效能时,以一收集单元在所述晶圆进行晶圆测试后收集所述晶圆的批号、所述晶圆的型号、所述被测元件在晶圆上的坐标、所述被测元件号以及所述被测元件测试的参数与测试结果的数据,并送往一测试数据分析站进行分析,以所述数据制作各种收集资料的常态分布图,计算出差异数与标准差,作为品质管制监控手段或测试程式稳定度分析。 |
地址 |
中国台湾新竹县 |