| 发明名称 |
SYSTEM FOR CALCULATION OF MATERIAL PROPERTIES USING REFLECTION TERAHERTZ RADIATION AND AN EXTERNAL REFERENCE STRUCTURE |
| 摘要 |
테라헤르츠 방사선을 해석하기 위한 시스템은 테라헤르츠 방사선의 펄스를 출력하게 구성된 테라헤르츠 송신기 및 테라헤르츠 송신기로부터 테라헤르츠 방사선의 펄스의 적어도 일부를 수용하게 구성된 테라헤르츠 수신기를 포함한다. 테라헤르츠 수신기는 테라헤르츠 수신기에 의해 수신된 방사선에 기초하여 신호를 출력하게 구성된다. |
| 申请公布号 |
KR20150082318(A) |
申请公布日期 |
2015.07.15 |
| 申请号 |
KR20157012742 |
申请日期 |
2013.10.18 |
| 申请人 |
PICOMETRIX, LLC |
发明人 |
WHITE JEFFREY S.;ZIMDARS DAVID |
| 分类号 |
G01N21/3586;G01B9/02;G01B11/06;G01N5/00;G01N9/00;G01N21/45 |
主分类号 |
G01N21/3586 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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