发明名称 一种按键测试装置
摘要 本实用新型实施例公开了一种按键测试装置,解决了目前由人力进行单一的按压接触测试而检测触发的情况,所导致的人力资源的浪费,及效率低下的技术问题。本实施例包括:推进机构和测试平台;推进机构与测试平台对应面上设置有多个按压头,用于在推动作用下将按压头推进至测试平台处;测试平台上方设置有电路板,电路板与电控元件建立有电性连接关系;电路板上方设置有多个非接触式导电部件,与按压头的位置一一对应,用于通过下压方式与电路板的导电铜极相连通;当待测按键置放在非接触式导电部件之上时,通过推进推进机构,使得按压头在推动作用下按压待测按键,并带动非接触式导电部件下压与电路板的导电铜极相连通。
申请公布号 CN204462330U 申请公布日期 2015.07.08
申请号 CN201520098861.8 申请日期 2015.02.11
申请人 旭荣电子(深圳)有限公司 发明人 罗卫峰;赵礼云;张端阳;彭勇华
分类号 G01R31/327(2006.01)I 主分类号 G01R31/327(2006.01)I
代理机构 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 代理人 曹志霞
主权项 一种按键测试装置,其特征在于,包括:推进机构和测试平台;所述推进机构与所述测试平台对应面上设置有多个按压头,用于在推动作用下将所述按压头推进至所述测试平台处;所述测试平台上方设置有电路板,所述电路板与电控元件建立有电性连接关系;所述电路板上方设置有多个非接触式导电部件,与所述按压头的位置一一对应,用于通过下压方式与所述电路板的导电铜极相连通;其中,当待测按键置放在所述非接触式导电部件之上时,通过推进所述推进机构,使得所述按压头在推动作用下按压所述待测按键,并带动所述非接触式导电部件下压与所述电路板的导电铜极相连通。
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