发明名称 一种轴承内圈孔径检测机构的检测方法
摘要 本发明公开一种内圈孔径检测机构的检测方法,属于轴承内圈检测技术领域。当被测轴承内圈移入到检测机构的待检工位时,升降台下降,检测部件随之下降,先测量轴承内圈第一个截面的Y向内径,然后,升降台再次下降,再测量轴承内圈第二个截面的Y向内径,并将上述两个截面的测量数据发送给操作台的数据处理模块,通过测量待测轴承内圈两个不同截面上的Y向内径,数据处理模块可以计算出待测轴承内圈的内孔锥度;当被测轴承内圈完成Y向内径检测后,轴承内圈移入X向测量爪,再次测量被测轴承内圈两个截面的内径,最终计算出被测轴承内圈的内径大小、圆度以及锥度。上述检测方法可以快速精确的测量出轴承内圈的孔径大小、圆度以及锥度。
申请公布号 CN104748663A 申请公布日期 2015.07.01
申请号 CN201510147979.X 申请日期 2013.04.09
申请人 绍兴中轴自动化设备有限公司 发明人 金良
分类号 G01B7/13(2006.01)I;G01B7/30(2006.01)I;G01B7/28(2006.01)I 主分类号 G01B7/13(2006.01)I
代理机构 绍兴市越兴专利事务所 33220 代理人 蒋卫东
主权项 一种轴承内圈孔径检测机构的检测方法,其特征在于包括如下步骤:1)当被测轴承内圈移入到检测机构的待检工位时,升降台下降,检测部件随之下降,此时,作动气缸作用在弹性块的挡块上,使弹簧片发生形变,两个测量块之间的间距缩小,Y向测量爪伸入被测轴承内圈的孔径后,作动气缸的活塞杆缩回,先测量轴承内圈第一个截面的Y向内径,然后,升降台再次下降,Y向测量爪再测量轴承内圈第二个截面的Y向内径,LVDT位移传感器将上述两个截面的测量数据发送给操作台的数据处理模块,通过测量待测轴承内圈两个不同截面上的Y向内径,数据处理模块可以计算出待测轴承内圈的内孔锥度;2)当被测轴承内圈完成Y向内径检测后,移送机构的移位片将轴承内圈移入X向测量爪,X向测量爪再次测量被测轴承内圈两个截面的内径,然后将测量数据发送给操作台的数据处理模块,数据处理模块根据上述Y向和X向的数据,计算出被测轴承内圈的内径大小、圆度以及锥度,然后将计算结果发送给控制单元,控制单元根据测量结果将被测轴承内圈分为:合格轴承内圈、孔径偏特大轴承内圈、孔径偏大轴承内圈、孔径微偏大轴承内圈小、孔径偏小轴承内圈,孔径偏小轴承内圈可再次加工利用。
地址 312050 浙江省绍兴市绍兴县平水服装工业园区