发明名称 |
双重图形化的形成方法 |
摘要 |
一种双重图形化的形成方法,包括:提供基底,所述基底表面形成有掩膜层;依次在所述掩膜层表面形成第一光刻胶层和第二光刻胶层;对所述第一光刻胶层和第二光刻胶层进行曝光显影处理,在第一光刻胶层内形成第一通孔,在第二光刻胶层内形成第二通孔,且所述第一通孔的宽度大于第二通孔的宽度;形成填充满所述第一通孔和第二通孔的填充材料层;回刻蚀所述填充材料层,去除位于第二光刻胶层表面的填充材料层,且去除位于第二通孔内、以及第二通孔下方的填充材料层,直至暴露出掩膜层表面;去除第二光刻胶层和第一光刻胶层,剩余的填充材料层为双重图形化的掩膜。本发明提供一种双重图形化的掩膜的形成方法,提高形成的双重图形化的掩膜的图形质量。 |
申请公布号 |
CN104752170A |
申请公布日期 |
2015.07.01 |
申请号 |
CN201310745809.2 |
申请日期 |
2013.12.30 |
申请人 |
中芯国际集成电路制造(上海)有限公司;中芯国际集成电路制造(北京)有限公司 |
发明人 |
胡华勇 |
分类号 |
H01L21/027(2006.01)I |
主分类号 |
H01L21/027(2006.01)I |
代理机构 |
北京集佳知识产权代理有限公司 11227 |
代理人 |
骆苏华 |
主权项 |
一种双重图形化的形成方法,其特征在于,包括:提供基底,所述基底表面形成有掩膜层;依次在所述掩膜层表面形成第一光刻胶层和第二光刻胶层,且所述第一光刻胶层对光的敏感度比第二光刻胶层对光的敏感度强;对所述第一光刻胶层和第二光刻胶层进行曝光显影处理,在第一光刻胶层内形成第一通孔,在第二光刻胶层内形成第二通孔,且所述第一通孔的宽度大于第二通孔的宽度;形成填充满所述第一通孔和第二通孔的填充材料层,所述填充材料层还覆盖于第二光刻胶层表面,且刻蚀工艺对所述填充材料层的刻蚀速率大、而对第一光刻胶层和第二光刻胶层的刻蚀速率小;回刻蚀所述填充材料层,去除位于第二光刻胶层表面的填充材料层,且去除位于第二通孔内、以及第二通孔下方的填充材料层,直至暴露出掩膜层表面;去除第二光刻胶层和第一光刻胶层,剩余的填充材料层为双重图形化的掩膜。 |
地址 |
201203 上海市浦东新区张江路18号 |