发明名称 对辐射敏感的基片成像用的方法和装置
摘要 本发明公开了一种对辐射敏感的基片(17)成像用的方法,其中在应用具有以下波长的相干辐射(2)的情况下把可编程模板(6)投影在辐射敏感的基片(17)上,在所述波长时该基片(17)是辐射敏感的。通过声学-光学或电光学偏转单元(11)这样地同时进行地推移具有图像栅格(30)的可编程模板(6)的整个图像,使得多次投影在不同的位置处射在该基片(17)上,以便在基片(17)上在图像栅格(30)中产生精细的部分栅格(31)。另外,本发明还描述一种执行该方法的装置。
申请公布号 CN102369483B 申请公布日期 2015.06.17
申请号 CN200980146357.8 申请日期 2009.10.23
申请人 海德堡显微技术仪器股份有限公司 发明人 R·威纳恩茨范雷桑特;R·卡普兰
分类号 G03F7/20(2006.01)I 主分类号 G03F7/20(2006.01)I
代理机构 中国专利代理(香港)有限公司 72001 代理人 臧永杰;卢江
主权项 对辐射敏感的基片(17)成像用的方法,其中在应用具有所述基片(17)辐射敏感的波长的相干辐射(2)的情况下在辐射敏感的基片(17)上投影可编程模板(6),其中通过声学‑光学或电光学偏转单元(11)推移具有图像栅格(30)的可编程模板(6)的整个图像,并且在基片(17)上在图像栅格(30)中产生精细的部分栅格( 31 ),其特征在于,该相干辐射(2)借助于光学装置(3)这样地扩张成经扩张的辐射场(4),使得将所述辐射场偏转到该可编程模板(6)上,并照射可编程模板(6)的所有可控制的调制器元件(7),借助于声学‑光学或电光学偏转单元(11)这样地同时进行地推移可编程模板(6)的由激活的调制器元件(7)的大量相干射束产生的整个图像,根据基片(17)的每个要曝光的面,在图像栅格(30)内多次推移可编程模板(6)的整个图像,其中曝光过程在时间上错开地进行,并且其中多次投影在不同的位置处射在基片(17)上,使得在基片(17)上在图像栅格(30)中产生精细的部分栅格(31),由于激活的调制器元件(7)的衍射,发散的分散线(8)射中在透镜(9)上,所述透镜(9)设置成到所述模板(6)距离对应于其焦距,其中借助所述透镜(9),发散的分散线(8)转换成平行辐射束(10),及所述平行辐射束(10)借助于在所述透镜(9)的焦平面中设置的声学‑光学或电光学偏转单元(11)作为一阶辐射束(14)偏转在另一透镜(15)上,所述另一透镜(15)的输入侧的焦平面与所述透镜(9)的上述焦平面(18)重合,并且所述辐射敏感的基片(17)处于所述另一透镜(15)的输出侧的焦平面中,其中借助所述另一透镜(15),入射的一阶辐射束(14)聚焦在基片(17)上。
地址 德国海德堡