发明名称 VERFAHREN ZUM HERSTELLEN EINER HALBLEITERVORRICHTUNG MIT PROTONENBESTRAHLUNG UND HALBLEITERVORRICHTUNG MIT LADUNGSKOMPENSATIONSSTRUKTUR
摘要 <p>Ein Verfahren zum Herstellen einer Halbleitervorrichtung umfasst ein Bilden einer Ladungskompensationsvorrichtungsstruktur in einem Halbleitersubstrat (105). Das Verfahren umfasst weiterhin ein Messen eines Wertes einer elektrischen Eigenschaft (αi), die auf die Ladungskompensationsvorrichtung bezogen ist. Wenigstens ein Parameter aus Protonenbestrahlungsund Ausheilparametern wird aufgrund des gemessenen Wertes eingestellt. Aufgrund des wenigstens einen Parameters der eingestellten Protonenbestrahlungs- und Ausheilparameter wird das Halbleitersubstrat (105) mit Protonen bestrahlt, und danach wird das Halbleitersubstrat (105) ausgeheilt.</p>
申请公布号 DE102014117700(A1) 申请公布日期 2015.06.11
申请号 DE201410117700 申请日期 2014.12.02
申请人 INFINEON TECHNOLOGIES AG 发明人 SCHULZE, HANS-JOACHIM;WEBER, HANS;JANTSCHER, WOLFGANG;STRACK, HELMUT;SCHUSTEREDER, WERNER
分类号 H01L21/66;H01L21/268;H01L21/336;H01L29/78 主分类号 H01L21/66
代理机构 代理人
主权项
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