发明名称 METHOD AND DEVICE FOR DETERMINING THE X-RAY RADIATION ATTENUATION CAUSED BY THE OBJECT TO BE EXAMINED
摘要 본 발명은, 대상(7)에 의해 초래되는 감쇠를 결정하기 위하여, X-선 방사선의 세기에 부가하여, X-선 방사선의 스펙트럼 구성의 사용에 관한 것이다. 본 발명의 다른 양상은 본 발명에 따른 전술된 프로시저(procedure)를 수행하기에 적절한 디바이스, 특히 X-선 또는 CT 시스템(1)에 대한 방사선 모니터(M)이다.
申请公布号 KR20150059791(A) 申请公布日期 2015.06.02
申请号 KR20157010833 申请日期 2013.07.18
申请人 SIEMENS AKTIENGESELLSCHAFT 发明人 HANNEMANN THILO;REINWAND MARIO
分类号 A61B6/03;A61B6/00 主分类号 A61B6/03
代理机构 代理人
主权项
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