发明名称 电子设备测试系统与方法;SYSTEM AND METHOD FOR TESTING ELECTRONIC DEVICE
摘要 一种电子设备测试系统,用以对受控设备进行软体测试,电子设备测试系统包括主控设备、软体测试设备及转接设备,软体测试设备上安装有系统镜像档,转接设备上设有网路介面,主控设备、软体测试设备及受控设备分别连接网路介面,主控设备向软体测试设备发出扫描指令,软体测试设备扫描受控设备之资讯,主控设备选择需要测试之受控设备与系统镜像档中需要运行之测试程式,软体测试设备藉由转接设备将系统镜像档发送给被选择之受控设备,受控设备启动系统镜像档并运行选择之测试程式以完成软体之测试。本发明还揭示了一种电子设备测试方法。
申请公布号 TW201520763 申请公布日期 2015.06.01
申请号 TW102137239 申请日期 2013.10.16
申请人 鸿海精密工业股份有限公司 HON HAI PRECISION INDUSTRY CO., LTD. 发明人 朱劲松 ZHU, JIN-SONG;司昌亮 SI, CHANG-LIANG;王丽霞 WANG, LI-XIA
分类号 G06F11/36(2006.01) 主分类号 G06F11/36(2006.01)
代理机构 代理人
主权项
地址 新北市土城区自由街2号 TW