| 摘要 |
<p>Die vorliegende Erfindung betrifft eine Positionsmesseinrichtung mit einem Maßstab und einer relativ dazu in Messrichtung beweglichen Abtasteinheit. Der Maßstab weist zumindest eine Referenzmarkierung auf, wobei durch eine optische Abtastung der Referenzmarkierung ein Referenzsignal erzeugbar ist. Ferner weist der Maßstab optisch abtastbare Bereichsmarkierungen auf, wobei durch eine optische Abtastung der Bereichsmarkierungen mit einem Abtaststrahlenbündel ein Bereichssignal erzeugbar ist, durch das unterscheidbar ist, ob sich die Abtasteinrichtung auf der ersten oder der zweiten Seite der Referenzmarkierung befindet. Zwischen dem Maßstab und einem Bereichssignal-Detektor ist ein periodisches Blendengitter angeordnet, welches derart ausgebildet und angeordnet ist, dass bei der optischen Abtastung der Bereichsmarkierungen in der Detektionsebene des Bereichssignal-Detektors ein Streifenmuster resultiert, aus dem abhängig von der Position der Abtasteinheit relativ zur Referenzmarkierung mindestens zwei unterscheidbare Abtastsignale erzeugbar sind.</p> |
