发明名称 CHEMICAL CONTROL FEATURES IN WAFER PROCESS EQUIPMENT
摘要 <p>환형 바디, 상부 플레이트, 및 하부 플레이트를 포함하는 가스 분배 어셈블리들이 설명된다. 상부 플레이트는 제 1 복수의 구멍들을 정의할 수 있고, 하부 플레이트는 제 2 및 제 3 복수의 구멍들을 정의할 수 있다. 상부 및 하부 플레이트들은, 제 1 및 제 2 구멍들이 가스 분배 어셈블리들을 통해 채널들을 생성하고, 상부 및 하부 플레이트들 사이에 볼륨이 정의되도록, 서로 그리고 환형 바디와 커플링될 수 있다.</p>
申请公布号 KR20150056631(A) 申请公布日期 2015.05.26
申请号 KR20157009839 申请日期 2013.09.09
申请人 APPLIED MATERIALS, INC. 发明人 LIANG QIWEI;CHEN XINGLONG;CHUC KIEN;LUBOMIRSKY DIMITRY;PARK SOONAM;YANG, JANG GYOO;VENKATARAMAN SHANKAR;TRAN TOAN;HINCKLEY KIMBERLY;GARG SAURABH
分类号 H01L21/3065;B05B1/00;C23C16/452;C23C16/455 主分类号 H01L21/3065
代理机构 代理人
主权项
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