一种测试LED芯片散热的实验装置

摘要

本发明提供一种测试LED芯片散热的实验装置，主要由可调支架、电源模块、隔热材料、待测LED芯片、散热器、温度测量仪组成，可调支架由固定底座、支撑杆和高度调节杆组成，隔热材料安装在可调支架的固定底座上，隔热材料的上方安装待测LED芯片，散热器安装在待测LED芯片的上方。电源为LED芯片、风扇等主动散热装置提供工作电压；使用温度测量仪对待测LED芯片的温度进行测量。该实验系统结构简单，安装操作方便，对LED芯片可以进行主动散热和自然散热的实验测试。

主权项

一种测试LED芯片散热的实验装置，主要由可调支架（1‑3）、隔热材料（4）、待测LED芯片（5）、散热器（6）、电源（7）、温度测量仪（8）组成；所述可调支架由固定底座（1）、支撑杆（2）和高度调节杆（3）组成，所述隔热材料（4）安装在可调支架的固定底座（1）上，隔热材料（4）的上方安装待测LED芯片（5），所述散热器（6）安装在待测LED芯片（5）的上方，电源（7）和温度测量仪（8）安装在固定底座（1）上。