发明名称 СИСТЕМА ОБРАТНОГО РАССЕЯНИЯ С ИЗМЕНЯЕМЫМ РАЗМЕРОМ МАТРИЦЫ ДАТЧИКОВ
摘要 1. Система обследования с обратным рассеянием с изменяемыми геометрическими характеристиками для обследования поверхности объекта, содержащая:транспортер, выполненный с возможностью перемещения вдоль линии перемещения;источник остронаправленного луча проникающего излучения, соединенный с транспортером и имеющий ось излучения;матрицу датчиков с изменяемыми геометрическими характеристиками, содержащую:первый датчик, соединенный с транспортером и имеющий первый вектор выравнивания, параллельный линии перемещения;второй датчик, соединенный с возможностью перемещения с транспортером, имеющий второй вектор выравнивания и выполненный с возможностью перемещения между первым положением и вторым положением, причем второй вектор выравнивания параллелен линии перемещения в первом положении;так что матрица представляет первый пространственный угол при наблюдении от точки на линии перемещения при нахождении второго датчика в первом положении и меньший пространственный угол при нахождении второго датчика во втором положении.2. Система обследования с обратным рассеянием с изменяемыми геометрическими характеристиками по п.1, в которой второй датчик соединен с возможностью перемещения с транспортером посредством подвижного элемента.3. Система обследования с обратным рассеянием с изменяемыми геометрическими характеристиками по п.1, в которой подвижный элемент содержит рычаг, содержащий:первый конец, соединенный с возможностью поворота с транспортером; ивторой конец, соединенный со вторым датчиком.4. Система обследования с обратным рассеянием с изменяемыми геометрическими характеристиками по п.1, в кото�
申请公布号 RU2013144844(A) 申请公布日期 2015.05.20
申请号 RU20130144844 申请日期 2012.04.13
申请人 АМЕРИКАН САЙЕНС ЭНД ИНДЖИНИРИНГ, ИНК. 发明人 ШУБЕРТ Джеффри Р.;КЭЙСОН Уильям Рэндалл
分类号 G01N23/203 主分类号 G01N23/203
代理机构 代理人
主权项
地址
您可能感兴趣的专利