发明名称 微机械传感器设备以及相应的制造方法
摘要 本发明涉及一种微机械传感器设备以及相应的制造方法。所述微机械传感器设备包括:具有前侧(VS)和背侧(RS)的CMOS晶片(1)、在所述CMOS晶片(1)的前侧(VS)上构造的具有多个堆叠的印制导线层面(LB0、LB1、LB2)和绝缘层(I)的再布线装置(1a)、具有前侧(V10)和背侧(R10)的MEMS晶片(10)、在所述MEMS晶片(1)的前侧(VS)上构造的微机械传感器装置(MS)、在所述MEMS晶片(10)与所述CMOS晶片(1)之间的键合连接(B)、在所述MEMS晶片(10)与所述CMOS晶片(1)之间的腔(KV)以及施加在多个堆叠的印制导线层面(LB0、LB1、LB2)和绝缘层(I)中的至少一个上的暴露的吸气剂层区域(G1;G1’),所述传感器装置(MS)密封地包围在所述腔中。
申请公布号 CN104627948A 申请公布日期 2015.05.20
申请号 CN201410637249.3 申请日期 2014.11.05
申请人 罗伯特·博世有限公司 发明人 J·赖因穆特;J·贡斯卡
分类号 B81B7/02(2006.01)I;B81C1/00(2006.01)I 主分类号 B81B7/02(2006.01)I
代理机构 永新专利商标代理有限公司 72002 代理人 郭毅
主权项 一种微机械传感器设备,所述微机械传感器设备具有:具有前侧(VS)和背侧(RS)的CMOS晶片(1);在所述CMOS晶片(1)的前侧(VS)上构造的具有多个堆叠的印制导线层面(LB0、LB1、LB2)和绝缘层(I)的再布线装置(1a);具有前侧(V10)和背侧(R10)的MEMS晶片(10);在所述MEMS晶片(1)的前侧(VS)上构造的微机械传感器装置(MS);在所述MEMS晶片(10)与所述CMOS晶片(1)之间的键合连接(B);在所述MEMS晶片(10)与所述CMOS晶片(1)之间的腔(KV),所述传感器装置(MS)密封地包围在所述腔中;以及施加在多个堆叠的印制导线层面(LB0、LB1、LB2)和绝缘层(I)中的至少一个上的暴露的吸气剂层区域(G1;G1’)。
地址 德国斯图加特