发明名称 |
被检体信息获取装置以及被检体信息获取装置的控制方法 |
摘要 |
一种被检体信息获取装置,包括:被配置为生成第一照射光的第一光源(1);被配置为生成第二照射光的第二光源(10);被配置为把第一照射光引导至被检体的第一照明光学系统(2,3a,3b,100);被配置为把第二照射光引导至被检体的第二照明光学系统(2,3a,3b,100);被配置为获取被检体上的反射的第二照射光的强度信号的光传感器单元(8a,8b);以及被配置为基于反射光的强度信号来确定第一照射光的照射适当性的控制设备(9)。第二照明光学系统与第一照明光学系统共享光学构件的至少一部分。 |
申请公布号 |
CN104640499A |
申请公布日期 |
2015.05.20 |
申请号 |
CN201380048189.5 |
申请日期 |
2013.09.17 |
申请人 |
佳能株式会社 |
发明人 |
佐藤章 |
分类号 |
A61B5/00(2006.01)I |
主分类号 |
A61B5/00(2006.01)I |
代理机构 |
中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 |
代理人 |
欧阳帆 |
主权项 |
一种被检体信息获取装置,把光照射在被检体上、接收在被检体中生成的声波并且基于所述声波来获取关于被检体内部的信息,其特征在于,被检体信息获取装置包括:第一光源,被配置为生成要照射在被检体上的第一照射光,所述第一照射光被发射以生成来自被检体的声波;第二光源,被配置为生成要照射在被检体上的第二照射光;第一照明光学系统,连接到第一光源并且被配置为把第一照射光引导至被检体;第二照明光学系统,连接到第二光源并且被配置为把第二照射光引导至被检体;光传感器单元,包括光传感器并且被配置为获取被检体上的由于照射在被检体上的第二照射光的反射而导致的反射光的强度信号;以及控制设备,被配置为基于由光传感器单元获取的反射光的强度信号来确定第一照射光的照射适当性,其中第二照明光学系统与第一照明光学系统共享光学构件的至少一部分。 |
地址 |
日本东京 |