发明名称 半导体封装件及其制法;SEMICONDUCTOR PACKAGE AND MANUFACTURING METHOD THEREOF
摘要 一种半导体封装件及其制法,该制法系包括:提供一其上具有剥离层之承载板,并于该剥离层上接置具有相对之作用面与非作用面的半导体晶片,该半导体晶片之作用面系面向该剥离层,且该半导体晶片之非作用面上系形成有疏水层,再于该剥离层未设有该半导体晶片之表面上形成介电层,接着,于该疏水层与介电层上覆盖封装胶体,并于该封装胶体上压合一基板,再移除该承载板与剥离层,以外露该半导体晶片之作用面。本发明能避免半导体晶片于封装过程中偏移,进而增进良率。; forming a dielectric layer on the surface of the release film layer in which the semiconductor wafer is not provided, and then covering the hydrophobic layer and the dielectric layer by a packaging encapsulant, laminating the packaging encapsulant on a substrate, and removing the carrier and the release film layer, so as to expose the acting surface of the semiconductor wafer. The present invention enables semiconductor wafer to avoid die-drifting during the packaging fabrication process, and then improves the yield.
申请公布号 TW201519377 申请公布日期 2015.05.16
申请号 TW102141210 申请日期 2013.11.13
申请人 矽品精密工业股份有限公司 SILICONWARE PRECISION INDUSTRIES CO., LTD. 发明人 陈彦亨 CHEN, YAN HENG;张江城 CHANG, CHIANG CHENG;黄荣邦 HUANG, JUNG PANG;刘鸿汶 LIU, HUNG WEN;纪杰元 CHI, CHIEH YUAN
分类号 H01L23/28(2006.01);H01L21/56(2006.01) 主分类号 H01L23/28(2006.01)
代理机构 代理人 陈昭诚
主权项
地址 台中市潭子区大丰路3段123号 TW
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