| 发明名称 | 一种缺陷检测方法和装置 | ||
| 摘要 | 本发明提供了一种缺陷检测方法和装置，该方法包括：获取感兴趣区域ROI图像；设置两个阈值，针对像素值位于两个阈值区间内的ROI图像的正常像素点、以及像素值位于两个阈值区间外的ROI图像的缺陷像素点进行二值化处理，得到二值化图像；对得到的二值化图像中的缺陷像素点进行竖直投影和/或水平投影，得到缺陷点的投影图像；从投影图像中检测出缺陷。本发明能够实现对低对比度缺陷的检测。 | ||
| 申请公布号 | CN104616275A | 申请公布日期 | 2015.05.13 |
| 申请号 | CN201310538152.2 | 申请日期 | 2013.11.04 |
| 申请人 | 北京兆维电子（集团）有限责任公司;北京兆维科技开发有限公司 | 发明人 | 王新新;邹伟金;李晨;徐江伟 |
| 分类号 | G06T7/00(2006.01)I | 主分类号 | G06T7/00(2006.01)I |
| 代理机构 | 北京路浩知识产权代理有限公司 11002 | 代理人 | 李相雨 |
| 主权项 | 一种缺陷检测方法，其特征在于，该方法包括： 获取感兴趣区域ROI图像； 设置两个阈值，针对像素值位于两个阈值区间内的ROI图像的正常像素点、以及像素值位于两个阈值区间外的ROI图像的缺陷像素点进行二值化处理，得到二值化图像； 对得到的二值化图像中的缺陷像素点进行竖直投影和/或水平投影，得到缺陷点的投影图像； 从投影图像中检测出缺陷。 | ||
| 地址 | 100015 北京市朝阳区酒仙桥路14号 | ||