发明名称 一种调整电小尺寸弯折线微带天线性能的方法
摘要 本发明公开了一种调整电小尺寸弯折线微带天线性能的方法,包括以下步骤:步骤1)确定电小尺寸弯折线微带天线的接地板面积为S,步骤2)在介质基片内部插入一个金属片,金属片面积为S1,步骤3)通过天线性能的变化趋势,确定金属片面积S1的变化范围;步骤4)通过优化方法,确定最佳金属片面积S1。本发明提供了一个新的调整天线性能参数的方法;可以获得比现有技术下弯折线微带天线更好的天线性能指标。
申请公布号 CN104577291A 申请公布日期 2015.04.29
申请号 CN201510016265.5 申请日期 2015.01.13
申请人 福建工程学院 发明人 胡驰
分类号 H01Q1/00(2006.01)I;H01Q9/00(2006.01)I 主分类号 H01Q1/00(2006.01)I
代理机构 北京市商泰律师事务所 11255 代理人 王晓彬
主权项 一种调整电小尺寸弯折线微带天线性能的方法,其特征在于,包括以下步骤:步骤1)确定电小尺寸弯折线微带天线的接地板面积为S,边界条件为:e<sub>n</sub>×E<sub>1</sub>=0,在S上;e<sub>n</sub>×H<sub>1</sub>=J<sub>S</sub>,在S上;其中,介质基片中的电场为E1,磁场为H1,接地板上的面电流密度为Js,e<sub>n</sub>为分界面的法向单位矢量;步骤2)在介质基片内部插入一个金属片,金属片面积为S1,调整后边界条件已变化如下:e<sub>n</sub>×E<sub>1</sub>=0,在S上;e<sub>n</sub>×H<sub>1</sub>=J<sub>S</sub>,在S上;e<sub>n</sub>×E<sub>1</sub>=0,在S1上;e<sub>n</sub>×H<sub>1</sub>=J<sub>S</sub>,在S1上;步骤3)通过天线性能的变化趋势,确定金属片面积S1的变化范围;步骤4)通过优化方法,确定最佳金属片面积S1。
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