发明名称 DISPOSITIVO Y PROCEDIMIENTO PARA DETECCION Y/O DIAGNOSTICO DE FALLAS EN PROCESOS, EQUIPOS Y SENSORES
摘要 Dispositivo y procedimiento para la detección y/o diagnóstico de fallas en un proceso, equipo y en sensores utilizados para medir y controlar variables de un proceso, tanto para fallas únicas como fallas múltiples. La detección y/o diagnóstico se efectúan en base al cálculo de residuos entre los valores medidos y los valores calculados por una pluralidad de modelos lineales paralelos, construidos a partir de las correlaciones existentes entre las variables medidas por los sensores del proceso y por las distintas ecuaciones que gobiernan al proceso, tales como balances de masa, calor, relaciones de calidad, etc.. Una falla en un modelo (por esto se entiende la obtención de un residuo anómalamente alto por comparación entre la estimación del modelo y la medición), aumenta la probabilidad de que alguno de los parámetros o fallas asociadas a ese modelo este fallando. Cuando todos los modelos en los que un parámetro participa fallan o presentan una alta probabilidad de falla, el índice de anomalía de dichos parámetros es máximo. Utilizando estos índices y una descripción de causa-consecuencia entre los parámetros se obtiene una probabilidad de falla donde se indica la causa raíz del problema indicando las consecuencias que provoca en el proceso. El dispositivo comprende medios de almacenamiento de datos; medios de pre-procesamiento para el filtrado de los datos; medios de generación y almacenamiento de múltiples modelos de comportamiento; medios de cálculo de residuo que calculan la diferencia entre el valor medido y el predicho de las variables; medios de análisis para determinar la necesidad de comunicar una situación anómala; medios de comunicación que presentan un informe de la situación del proceso.
申请公布号 AR092747(A1) 申请公布日期 2015.04.29
申请号 AR2013P103536 申请日期 2013.09.30
申请人 YPF TECNOLOGIA S.A. 发明人 GABRIEL IGNACIO HOROWITZ;CRISTIAN MARTIN DORBESI
分类号 G05B19/00 主分类号 G05B19/00
代理机构 代理人
主权项
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