发明名称 γ放射源绝对活度测量方法
摘要 本发明属于放射性测量技术领域,公开了一种γ放射源绝对活度测量方法。该方法包括以下步骤:(i)将电加热元件放入测量室内对屏蔽体加热,得到电加热元件的输入功率与屏蔽体温度的函数关系;(ii)将γ放射源放置在测量室内,得到屏蔽体温度,将所得屏蔽体温度代入函数关系得到衰变热功率,并计算出γ放射源活度值。采用该法对γ放射源活度测量可大大降低γ放射源活度测量的不确定度。
申请公布号 CN103135118B 申请公布日期 2015.04.29
申请号 CN201110380413.3 申请日期 2011.11.25
申请人 中国原子能科学研究院 发明人 姚厉农;王鑫;王克江;毕可明;刘歆粤;殷振国;颜田玉
分类号 G01T1/00(2006.01)I;G01T1/12(2006.01)I 主分类号 G01T1/00(2006.01)I
代理机构 代理人
主权项 γ放射源绝对活度测量方法,该方法包括以下步骤:(ⅰ)将电加热元件放入测量室内对屏蔽体加热,得到电加热元件的输入功率与屏蔽体温度的函数关系;(ⅱ)将γ放射源放置在测量室内,得到屏蔽体温度;其特征在于,将步骤(ⅱ)所述的屏蔽体温度代入步骤(ⅰ)所述的函数关系,得到γ放射源的衰变热功率并计算出γ放射源活度值;利用衰变热功率计算γ放射源活度值采用的公式为A=P/(k<sub>1</sub>k<sub>2</sub>),其中A为γ放射源活度,P为衰变热功率,k<sub>1</sub>为衰变热常数,k<sub>2</sub>为能量沉积比例。
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