| 发明名称 | 一种甚大规模集成电路版图层次比较工具的单元切分预处理方法 | ||
| 摘要 | 本发明公开了一种甚大规模集成电路版图层次比较工具中版图单元切分预处理方法，属于半导体集成电路设计自动化领域，主要用于后端设计时比较甚大规模集成电路版图间的差异。本预处理方法将层次版图中降低比较效率的大单元内部转换为较小单元，提高了层次版图差异比较的效率。其实现过程为：对版图中的每个大单元在X方向和Y方向同时作切分；根据本单元的大小决定X和Y方向切分线的总数N<sub>x</sub>和N<sub>y</sub>；切分为(N<sub>x</sub>+1)x(N<sub>y</sub>+1)块数据，对应的新建(N<sub>x</sub>+1)x(N<sub>y</sub>+1)个伪子单元，将每块数据存入伪单元中；将大单元中的原始数据清空，重新插入(N<sub>x</sub>+1)x(N<sub>y</sub>+1)个引用伪子单元的实例。 | ||
| 申请公布号 | CN104572658A | 申请公布日期 | 2015.04.29 |
| 申请号 | CN201310478185.2 | 申请日期 | 2013.10.14 |
| 申请人 | 北京华大九天软件有限公司 | 发明人 | 戴斌华;于士涛;王国庆;路艳芳 |
| 分类号 | G06F17/30(2006.01)I | 主分类号 | G06F17/30(2006.01)I |
| 代理机构 | 代理人 | ||
| 主权项 | 一种集成电路版图层次比较工具的单元切分预处理方法；本预处理方法将层次版图中降低比较效率的大单元内部转换为较小单元，提高了层次版图差异比较的效率；其技术特征在于：对版图中的每个大单元在X方向和Y方向同时作切分；根据本单元的大小决定X和Y方向切分线的总数N<sub>x</sub>和N<sub>y</sub>；切分为(N<sub>x</sub>+1) x (N<sub>y</sub>+1)块数据，对应的新建(N<sub>x</sub>+1) x (N<sub>y</sub>+1)个伪子单元，将每块数据存入伪单元中；将大单元中的原始数据清空，重新插入(N<sub>x</sub>+1) x (N<sub>y</sub>+1)个引用伪子单元的实例。 | ||
| 地址 | 100102 北京市朝阳区利泽中二路2号A座二层 | ||