| 摘要 |
<p>L'invention propose un procédé optique de mesure et un dispositif optique de mesure pour déterminer la distribution spatiale ou spatiotemporelle d'un échantillon, l'échantillon comportant au moins une source réémettrice ledit au moins une source réémettrice réémettant de la lumière en fonction de la lumière projetée sur l'échantillon, suivant une loi déterminée, par une première source lumineuse comprenant un premier laser, et la source réémettrice pouvant être déplétée ou activée par l'action d'une seconde source lumineuse, comprenant un second laser, le procédé comportant : l'utilisation des deux lasers, la longueur d'onde d'un des lasers étant accordée sur la longueur d'onde d'excitation dudit au moins une source réémettrice et la longueur d'onde du second laser étant accordée sur la longueur d'onde de déplétion ou d'activation dudit au moins une source réémettrice, la réalisation, à l'aide d'un sous module de polarisation, pour chaque laser, un état de polarisation contrôlé, la projection sur l'échantillon, au moyen d'un appareil optique de projection achromatique, d'au moins deux distributions lumineuses compactes de familles topologiques différentes, se propageant suivant le même chemin optique, la détection de la lumière réémise par ledit au moins une source réémettrice de l'échantillon ; la génération, d'au moins une image optique, à partir de la lumière détectée ; et l'analyse algorithmique des images optiques pour obtenir une information de localisation dudit au moins une source réémettrice. De plus, l'invention décrit la réalisation de l'appareil optique de projection achromatique cité, à l'aide de modules basés sur la diffraction conique ou sur d'autres effets optiques.</p> |
