发明名称 Abscheidungssysteme mit Abscheidungskammern, die für in-situ-Metrologie mit Strahlungsbeugung ausgebildet sind, und verwandte Verfahren
摘要 <p>Abscheidungskammern für die Verwendung mit Abscheidungssystemen umfassen eine Kammerwand, die ein transparentes Material aufweist. Die Kammerwand kann eine äußere Metrologie-Fensterfläche, die sich von einer äußeren Hauptfläche der Wand erstreckt und von dieser wenigstens teilweise umschrieben ist, und eine innere Metrologie-Fensterfläche, die sich von einer inneren Hauptfläche der Wand erstreckt und von dieser wenigstens teilweise umschrieben ist, umfassen. Die Fensterflächen können in Winkeln zu den Hauptflächen ausgerichtet sein. Abscheidungssysteme umfassen solche Kammern. Verfahren umfassen die Bildung solcher Abscheidungskammern. Die Abscheidungssysteme und Kammern können zur Durchführung einer in-situ-Metrologie verwendet werden.</p>
申请公布号 DE112013002819(T5) 申请公布日期 2015.04.02
申请号 DE20131102819T 申请日期 2013.05.24
申请人 SOITEC 发明人 CANIZARES, CLAUDIO;DING, DING
分类号 C23C16/52 主分类号 C23C16/52
代理机构 代理人
主权项
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