发明名称 |
用于确定与多相体系有关的性质的方法和装置 |
摘要 |
本发明提供了用于确定与多相体系有关的性质的方法和装置。在该方法中,形成试样管的阵列,每个试样管包含多相体系的试样。使用重复过程来生成每个试样的透射和/或后向散射值的至少两个数据集并处理每个试样的数据集以确定该试样的至少一种性质。该装置具有可以在其上面装配试样管阵列的支撑体,每个试样管包含多相体系的试样。该装置还具有波源和用于检测每个试样的透射和/或后向散射值的至少一个波检测器;及计算机部件,其用于反复地操作所述波源和所述至少一个检测器以生成每个试样的透射和/或后向散射值的数据集并用于处理每个试样的数据集以确定该试样的至少一种性质。 |
申请公布号 |
CN101625320B |
申请公布日期 |
2015.04.01 |
申请号 |
CN200910158408.0 |
申请日期 |
2009.07.06 |
申请人 |
玉米产品开发股份有限公司 |
发明人 |
J·卡罗尔;S·R·吉本 |
分类号 |
G01N21/59(2006.01)I;G01N21/51(2006.01)I;G01N21/01(2006.01)I;G01N15/02(2006.01)I;G01N15/04(2006.01)I |
主分类号 |
G01N21/59(2006.01)I |
代理机构 |
中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 |
代理人 |
屠长存 |
主权项 |
一种用于确定与多相体系有关的性质的方法,包括:a)形成试样管阵列,每个试样管包含多相体系的试样;b)提供取样启动基准面,对该取样启动基准面的检测启动信号的取样;c)以重复的过程,生成每个试样的透射和/或后向散射值的至少两个数据集;以及d)处理每个试样的数据集以确定该试样的至少一种性质,其中,通过相对于两个相互垂直的基准面保持每个管来形成阵列,第一基准面是垂直的并与各个管的侧壁接触,而第二基准面是水平的并与各个管的基底接触;其中,所述取样启动基准面包括在下面并与水平面平行的第三基准面,第二基准面与第三基准面之间的距离被用作二次距离校准和检查。 |
地址 |
美国伊利诺斯 |