| 发明名称 | 验证芯片设计的方法 | ||
| 摘要 | 提供一种验证芯片设计的方法。所述方法包括：(A)根据需要验证的芯片设计确定功能覆盖项以及测试代码；(B)基于测试代码随机测试功能覆盖项，以获得每次随机测试结束时的累计功能覆盖率；(C)在累计功能覆盖率没有达到预定值的情况下，根据已完成的各次随机测试对应的测试结束时间和累计功能覆盖率计算累计功能覆盖率的收敛时间；(D)根据累计功能覆盖率的收敛时间更新功能覆盖项和/或测试代码，然后基于更新的功能覆盖项和/或测试代码返回执行步骤(B)，其中，所述累计功能覆盖率是累计的已测试完的功能覆盖项占全部功能覆盖项的百分比。 | ||
| 申请公布号 | CN104462674A | 申请公布日期 | 2015.03.25 |
| 申请号 | CN201410691966.4 | 申请日期 | 2014.11.25 |
| 申请人 | 三星半导体（中国）研究开发有限公司;三星电子株式会社 | 发明人 | 吕明 |
| 分类号 | G06F17/50(2006.01)I | 主分类号 | G06F17/50(2006.01)I |
| 代理机构 | 北京铭硕知识产权代理有限公司 11286 | 代理人 | 张川绪 |
| 主权项 | 一种验证芯片设计的方法，包括：(A)根据需要验证的芯片设计确定功能覆盖项以及测试代码；(B)基于测试代码随机测试功能覆盖项，以获得每次随机测试结束时的累计功能覆盖率；(C)在累计功能覆盖率没有达到预定值的情况下，根据已完成的各次随机测试对应的测试结束时间和累计功能覆盖率计算累计功能覆盖率的收敛时间；(D)根据累计功能覆盖率的收敛时间更新功能覆盖项和/或测试代码，然后基于更新的功能覆盖项和/或测试代码返回执行步骤(B)，其中，所述累计功能覆盖率是累计的已测试完的功能覆盖项占全部功能覆盖项的百分比。 | ||
| 地址 | 215021 江苏省苏州市工业园区国际科技园科技广场7楼 | ||