发明名称 |
接近传感器测试装置与测试方法 |
摘要 |
本发明揭示了一种接近传感器的测试装置及利用该测试装置对接近传感器进行测试的方法,该测试装置包括用以放置设有接近传感器的测试机的测试平台、电子高度计量计、导柱、滑动臂、固定元件及支杆,该导柱与测试平台垂直设置,滑动臂设在导柱上并可沿导柱在测试平台的垂直方向上下移动,电子高度计量计设置在滑动臂上,滑动臂的一端设有固定元件,另一端设有一支杆,该支杆一端固定在滑动臂上并与导柱平行设置,该支杆底部用以放置测试卡,该方法利用不同的测试卡在不同位置取得该接近传感器的红外接收值,根据多个红外接收值的关系判断该接近传感器的结构是否有问题,从而避免该接近传感器的结构对阈值产生影响,以更有效的避免误判。 |
申请公布号 |
CN104457821A |
申请公布日期 |
2015.03.25 |
申请号 |
CN201410857173.5 |
申请日期 |
2014.12.30 |
申请人 |
上海畅联智融通讯科技有限公司 |
发明人 |
姚军徽 |
分类号 |
G01D18/00(2006.01)I |
主分类号 |
G01D18/00(2006.01)I |
代理机构 |
上海和跃知识产权代理事务所(普通合伙) 31239 |
代理人 |
孟建勇 |
主权项 |
一种接近传感器的测试装置,包括用以放置设有接近传感器的测试机的测试平台、电子高度计量计、导柱、滑动臂、固定元件及支杆,其中导柱与测试平台垂直设置,滑动臂设置在导柱上并可沿导柱在测试平台的垂直方向上、下移动,电子高度计量计设置在滑动臂上,而滑动臂的一端设有固定元件,而另一端设有一支杆,该支杆一端固定在滑动臂上并与导柱平行设置,该支杆底部用以放置测试卡。 |
地址 |
201203 上海市浦东新区张江高新技术园区晨晖路1000号W2座203 |