| 摘要 |
<p>Die Erfindung betrifft eine kapazitive Eingabeschnittstelle (1), umfassend ein flächiges Sensorfeld (4), das eine Vielzahl kapazitiver Sensorzellen (5) aufweist, und einen Signalgeber (9) zum Beaufschlagen der kapazitiven Sensorzellen (5) mit elektrischen Testsignalen, wobei jede der Sensorzellen (5) eingerichtet ist, bei Beaufschlagung mit einem der Testsignale ein von der Arbeitsfrequenz dieses Testsignals und von einer momentanen elektrischen Kapazität der Sensorzelle (5) abhängiges Antwortsignal zu erzeugen, wobei eine Steuereinheit (10) der Eingabeschnittstelle eingerichtet ist, den Signalgeber (9) in periodisch wiederkehrenden Arbeitszyklen dazu anzusteuern, jede der Sensorzellen (5) mit jeweils einem der Testsignale zu beaufschlagen, sowie eine Auswerteeinheit zum Ableiten von Kapazitätsmesswerten aus dem jeweiligen Antwortsignalen der Sensorzellen, wobei die Steuereinheit (10) eingerichtet ist, eine erste Teilgruppe der Sensorzellen (5) mit Testsignalen einer ersten Arbeitsfrequenz zu beaufschlagen und jeweils in dem selben Arbeitszyklus eine zweite Teilgruppe der Sensorzellen (5) mit Testsignalen einer von der ersten Arbeitsfrequenz verschiedenen zweiten Arbeitsfrequenz zu beaufschlagen.</p> |
